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 电子元件测试仪器物理缺陷测试X光射线探伤测试设备
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电子元件测试仪器物理缺陷测试X光射线探伤测试设备

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产品品牌: ANZHU
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最后更新: 2022-03-23 15:20
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   2529动态平板探测器,具有图像清晰、高DQE、高分辨率等优点,可以实现全分辨率14帧/秒,2x2 binning 30帧/秒,4x4 binning 60帧/秒,适用于X射线实时成像应用

上海安竹光电科技有限公司   电话:15317202960张先生(微信同号)   网址: www.anzhu8.com
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