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 测试设备测试内部结构方位透视DR平板探测器低迷的工业铸件测试
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测试设备测试内部结构方位透视DR平板探测器低迷的工业铸件测试

浏览次数: 138
产品品牌: ANZHU
最小起订: 1 台
供货总量: 100 台
发货期限: 付款后 3 天内发货
有效期至: 长期有效
最后更新: 2022-03-23 18:00
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供应详情

1719动态平板探测器,图像清晣、 时间短、成像速度快和读出速度高等优点,可以实现1x1原图30fps帧速率,2x2 binning60fps帧速率,同时提供适用于X射线实时成像应用。


技术参数                

规格                

探测器类别                

非晶硅                

闪烁体                

CsI GOS                

图像尺寸 (mm)                

160×130                

像素矩阵                

1274×1024                

像素间距 (um)                

125                

A/D转换 (bits)                

16                

灵敏度 (LSB/nGy,  RQA5)                

1.4                

线性剂量 (uGy, RQA5).

40                

调制传递函数 @ 0.5 LP/mm                

0.60                

调制传递函数 @ 1.0 LP/mm                

0.36                

调制传递函数 @ 2.0 LP/mm                

0.16                

调制传递函数 @ 3.0 LP/mm                

0.08                

残影 (%, 300uGy, 60s)                

<0.5                

量子探测效率 @ 0.0 LP/mm  (2.5uGy)                

0.73                

量子探测效率 @ 1.0 LP/mm  (2.5uGy)                

0.55                

量子探测效率 @ 2.0 LP/mm  (2.5uGy)                

0.45                

量子探测效率 @ 3.0 LP/mm  (2.5uGy)                

0.29                

空间分辨率 (LP/mm)                

4.0                

帧速率 (fps)                

30                

X-射线工作范围 (kV)                

40/-/150                

传输方式                

无线                

功率 (W)                

12                

电源 (V)                

DC24                

交流电源频率 -                

50/-/60                

适配器输出电压 (V)                

24 DC                

探测器尺寸 (mm)                

170×195×150                

探测器重量 (kg,不含线缆)                

1.0±0.1                

探测器外壳材料                

碳板,铝合金                

存储温度 (?C)

-20/-/55                

工作温度 (?C) 

5/-/35                

存储和运输湿度 (%RH)                

10/-/75                

工作湿度 (%RH)                

10/-/75                

上海安竹光电科技有限公司   电话:15317202960张先生(微信同号)   网址: www.anzhu8.com
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关键词: 测试设备
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